高溫試驗箱適用于工礦企業(yè)、學(xué)校、食品、化工、科研單位進(jìn)行非揮發(fā)性物品的干燥，烘焙及滅菌、消毒、保溫、及熱處理試驗，廣泛用于工業(yè)生產(chǎn)線上的熱處理及溫度特性試驗。

高低溫低氣壓試驗箱是模擬高海拔、高空條件下，在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用，適用于國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電池，平面顯示屏模組工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品料進(jìn)行高溫、低溫，高度（不高于海拔30000米或45000米）以及高低溫循環(huán)試驗、溫度及高度綜合試驗，高、低溫試驗時本試驗箱可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。

模擬再現(xiàn)高度（壓力）、溫度、濕度組合環(huán)境，對電工電子產(chǎn)品進(jìn)行高海拔環(huán)境使用評價和存放評價。

模擬高溫、低溫、高低溫循環(huán)以及恒定濕熱和交變濕熱試驗，同時在與振動臺配接后，可以實現(xiàn)溫度、濕度、振動三因素的綜合試驗的儀器設(shè)備。一般適用于航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位測試產(chǎn)品、材料在運輸和實際使用過程中對溫濕度及振動復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程必不可少的重要設(shè)備。

可模擬溫度、濕度、振動循環(huán)變化的組合環(huán)境，與單一因素作用相比，更能真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對溫濕度及振動復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷。

高低溫氣流沖擊儀工作原理適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存，F(xiàn)lash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器，transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測，試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循，環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

高低溫?zé)崃鲀x提供快速精準(zhǔn)的測試溫度, 適合模擬各種溫度測試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 廣泛應(yīng)用于集成電路 IC 卡, 電子芯片, 閃存, 光纖收發(fā)器或電子電路的在高低溫循環(huán)試驗Thermal cycle、高低溫沖擊測試Thermal shock特性分析等。

熱流儀是一種用于精確測量材料熱流密度、熱導(dǎo)率及熱阻等熱學(xué)參數(shù)的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于很多領(lǐng)域。它通過模擬嚴(yán)苛溫度環(huán)境，評估元器件的熱性能、可靠性及耐受性。其主要原理基于熱電偶、熱傳導(dǎo)定律及熱電效應(yīng)，通過測量樣品兩側(cè)溫度差和熱流變化，實時分析熱分布與傳輸特性。